top of page

LaTso  Project

Evaluation and Standardization for Laser Damage Resistance of Aerospace Optics

        Our project aims to determine and standardize the laser endurance threshold (LHED) of optical components used in systems established for space research at different wavelengths (1064 nm, 532 nm, 355 nm and 266nm).

The LaTSO project aims to observe the behavior of the optical component in space conditions by creating a kind of simulation of space conditions in a laboratory environment. The experimental stages of the LaTSO project are listed below.

  • Determination of LHED under Atmospheric Conditions

  • Determination of LHED under Vacuum Conditions

  • Determining the LHED of thermally conditioned optical components

  • Determination of LHED of optical components aged with UV light

Lazer fototermal spektroskopisi, geleneksel emilim spektroskopisi tekniklerine bir alternatiftir. Fototermal yöntemlerin aktif bir karakteri vardır; bunlar tahribatsızdır ve çoğu durumda temassızdır. Tüm fototermal tekniklerin karakteristik özelliği, ilgili fiziksel ve termodinamik parametrelerdeki değişiklikler aracılığıyla, malzemedeki emilen enerjinin doğrudan tespitiyle, incelenen ortamın özellikleri ve bileşimi hakkında bilgi vermeleridir³ ⁴. Fototermal tekniklerde, incelenen optiğin lazer ışınını soğurması, onda termal dalgaların uyarılmasına yol açar; bunun sonucunda sıcaklık ve kaydedilen sinyal modüle olur. Kaydedilen sinyalin zaman bağımlılığı ve fazı analiz edilerek, optiğin çeşitli fiziksel özellikleri hakkında bilgi elde edilebilir, örneğin soğurma kapasitesi ölçülebilir.

Lazer sistemlerindeki optik bileşenlerin soğurma özellikleri, bu sistemlerin güvenilirliği ve devamlılığı için karakterize edilmelidir. Bu sebeple, optik bileşenlerin soğurma ölçümlerinin yüksek hassasiyetle yapılması bu projeni amaçları arasındadır. Bu kapsamda UME’de ISO 11551 Lazer Kalorimetri ve Fototermal Ortak Yol İnterferometrisi olmak üzere, iki adet soğurma ölçüm sistemi geliştirilmiştir.

¹ Pinnow vd., 1973

² O’Keefe vd., 1988

³ Mandelis, 1992

⁴ Bialkowski vd., 1996

Fototermal Ortak Yol İnterferometrisi (FOYİ)

Y

wix1.jpg

Şekil 1.  a) alttaşlara ait geçirgenlik grafiği ve b) kapmaya ait yansıtıcılık grafiği

 

Ş

wix2.png

Şekil 2.  Alttaşların uygulanan radyasyon ile optik değişimleri

 

E

wix4.png

Şekil 3.  532 nm yüksek yansıtmalı optiklerin uygulanan radyasyona göre XRD grafikleri

 

L

wix5.png

Şekil 4.  532 nm yüksek yansıtmalı optiklerin Raster Tarama LHED sonuçları

bottom of page